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產(chǎn)品概覽 技術(shù)規(guī)格 資料下載 行業(yè)應(yīng)用


上等的顯微觀察 便捷的顯微操作


采用模塊化設(shè)計(jì)的BX3M系列具備適用多種材料科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用的多功能性。通過與奧林巴斯Stream軟件更加出色的集成，BX53M為標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡和數(shù)字成像用戶提供了從觀察到報(bào)告創(chuàng)建的無縫工作流程。

選擇合適的型號(hào)


六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活性。
· 通用：入門，標(biāo)準(zhǔn)，上等
· 專用：熒光，紅外，偏振
· 多種配置滿足用戶需求
· 模塊化設(shè)計(jì)，按自己的方式打造您的系統(tǒng)

舒適且使用方便


BX53M利用精心設(shè)計(jì)且易于使用的控件讓復(fù)雜顯微鏡檢查任務(wù)得到簡化。用戶無需進(jìn)行深入培訓(xùn)即可充分使用顯微鏡功能。

BX53M簡單、舒適的操作還可通過*大限度減少人為錯(cuò)誤提高可重復(fù)性。


· 簡易照明器
· 直觀的顯微鏡控制
· 快速發(fā)現(xiàn)焦點(diǎn)
· 均勻一致的照明
· 簡便且符合人體工學(xué)的操作
· 輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置
· 基本測量功能

 

 


                                     多功能

BX53M保留了諸如明場、暗場、偏光和微分干涉等常規(guī)顯微鏡的傳統(tǒng)對(duì)比方法。隨著新材料的開發(fā)，與使用標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比法檢測缺陷相關(guān)的許多難題均可

通過先進(jìn)顯微鏡技術(shù)解決，從而可以實(shí)現(xiàn)更加準(zhǔn)確和可靠的檢查。全新照明技術(shù)以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項(xiàng)為用戶評(píng)估樣品和存檔檢測結(jié)果提供更多選擇。


· 讓看不見的變得可見
· 創(chuàng)建全焦點(diǎn)圖像
· 輕松移動(dòng)全景載物臺(tái)
· 亮區(qū)和暗區(qū)均可采集
· 可根據(jù)觀察和分析偏好進(jìn)行調(diào)整
· 可適用于各種樣品
先進(jìn)光學(xué)器件

奧林巴斯開發(fā)高品質(zhì)光學(xué)器件的悠久歷史令其打造了久經(jīng)驗(yàn)證的光學(xué)品質(zhì)以及具有出色測量精度的顯微鏡。

· 出色的光學(xué)性能
· 穩(wěn)定的色溫和高強(qiáng)度白光LED照明
· 支持**測量
· 無縫拼接

波前像差控制


高度可靠的模塊化系統(tǒng)理念
從未如此簡單

六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活性

通用


專用
條目


基本功能輕松設(shè)置


標(biāo)準(zhǔn)
易于使用
多功能升級(jí)

上等版

支持諸多上等功能
熒光
非常適合
熒光觀察

紅外線


設(shè)計(jì)利用紅外觀察檢查集成電路

偏振


專為觀察雙折射特性而設(shè)計(jì)






LCD彩色濾光片


（透射/ BF）


鐵素體組織
晶粒
（反射/ DF）

線圈銅線


(BF + DF/MIX)

IC圖案上的光刻膠


(FL + DF/MIX)

硅層疊IC圖案


（紅外線）

石棉


(POL)






觀察方法
R-BF：明場（反射）
T-BF：明場（反射/透射）
DF：暗場
DIC：微分干涉/簡易偏光
MIX：MIX
FL：熒光
IR：紅外線
POL：極化

從不可見到可見：

MIX觀察


BX53M的MIX觀察技術(shù)將傳統(tǒng)照明方法與暗場照明相結(jié)合。使用MIX-插片時(shí)，其環(huán)形LED以定向暗場的方式照射樣品。

其效果與傳統(tǒng)暗場類似，但卻能夠通過選擇LED象限引導(dǎo)光從不同角度照射。

這種定向暗場和明場、熒光或偏光的組合被稱為MIX照明，其特別有助于突出缺陷并區(qū)分凸起表面與凹陷部位。





                 

采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域：HDR


采用先進(jìn)圖像處理技術(shù)的高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異，從而減少眩光。

HDR改善了數(shù)字圖像的視覺品質(zhì)，從而有助于生成具有專業(yè)級(jí)外觀的報(bào)告。


 

硬幣的即時(shí)MIA圖像

輕松移動(dòng)載物臺(tái)獲得全景圖像：即時(shí)圖像拼接（MIA）


利用即時(shí)多圖像拼接（MIA）功能，現(xiàn)在只需移動(dòng)手動(dòng)載物臺(tái)上的XY旋鈕即可快捷拼接圖像；

無需使用電動(dòng)載物臺(tái)。奧林巴斯Stream軟件可利用模式識(shí)別生成全景圖像，讓用戶獲得比單視野更寬的視場。



多種測量能力

常規(guī)或基本測量功能


奧林巴斯Stream的各種測量功能可以讓用戶輕松從圖像中獲取有用數(shù)據(jù)。在進(jìn)行質(zhì)量控制和檢查時(shí)，通常需要在圖像上使用測量功能。


所有級(jí)別的奧林巴斯Stream許可證均包含諸如距離、角度、矩形、圓形、橢圓形和多邊形等交互式測量功能。所有測量結(jié)果均可與圖

像文件一同保存，以便后續(xù)存檔。





計(jì)數(shù)和測量


目標(biāo)檢測和尺寸分布測量是數(shù)字成像*重要的應(yīng)用。奧林巴斯Stream軟件配備采用閾值方法的探測引擎，能夠可靠分離目標(biāo)（比如顆粒、劃痕）與背景。

材料科學(xué)解決方案


奧林巴斯Stream采用適合復(fù)雜圖像分析的面向工作流型直觀界面。只需單擊一個(gè)按鈕，即可按照*常見的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行*復(fù)雜圖像的分析任務(wù)。在大幅度縮減重復(fù)性任務(wù)處理時(shí)間的情況下，材料科學(xué)家可以將精力集中在分析和研究上。夾雜物和截點(diǎn)圖的模塊化加載項(xiàng)可隨時(shí)輕松執(zhí)行。

3D表面視圖（粗糙度測試樣品）                                         單視圖和3D輪廓測量


3D樣品測量


使用外部電動(dòng)對(duì)焦時(shí)，可以快速捕獲EFI圖像并以3D形式顯示。所采集的高度數(shù)據(jù)可用于對(duì)輪廓或單視圖圖像進(jìn)行3D測量。


查看更多樣品類型和尺寸

新型150×100 毫米載物臺(tái)在X方向上的行程比以前的型號(hào)更長。結(jié)合平頂式設(shè)計(jì)，大尺寸樣品或多個(gè)樣品均可輕松放置在載物臺(tái)上。載物臺(tái)板上設(shè)有用于固定樣品架的螺孔。更大尺寸的載物臺(tái)讓用戶能夠在一臺(tái)顯微鏡上檢查更多樣品，由此獲得的靈活性讓其節(jié)省了寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間。載物臺(tái)的可調(diào)扭矩便于在窄視場高倍率條件下進(jìn)行精細(xì)定位。

樣品高度和重量的靈活性


選配模塊單元可將*大105毫米的樣品安裝在載物臺(tái)上。由于采用改進(jìn)型聚焦機(jī)構(gòu)，顯微鏡可容納多達(dá)6公斤的總重量（樣品+樣品臺(tái)）。這意味著可以在BX53M上檢查尺寸更大、更重的樣品，讓實(shí)驗(yàn)室需要配備的顯微鏡更少。通過將6英寸晶片使用的可旋轉(zhuǎn)支架技巧性固定在偏心位置，用戶移動(dòng)100毫米行程時(shí)只需旋轉(zhuǎn)支架即可觀察整個(gè)晶片表面。經(jīng)過優(yōu)化的載物臺(tái)扭矩調(diào)節(jié)使用非常方便，舒適的手柄讓您能夠輕松找到樣品的目標(biāo)區(qū)域。

樣品尺寸的靈活性


當(dāng)樣品由于過大而難以放在傳統(tǒng)顯微鏡載物臺(tái)上時(shí)，反射光顯微鏡的核心光學(xué)組件可以采用模塊化方式配置。這種模塊化系統(tǒng)（BXFM）可以通過立桿安裝到更大的支架上，也可使用安裝支架安裝到其他選定的儀器上。即使用戶的樣品尺寸或形狀非常特別，也能夠使用奧林巴斯久負(fù)盛名的光學(xué)器件。

保護(hù)電子元器件免受靜電釋放損害：ESD兼容
BX53M具備ESD耗散能力，可保護(hù)電子設(shè)備免受人為或環(huán)境因素導(dǎo)致的靜電問題。