控制器
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信號(hào)處理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器
DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位
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集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器 彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法) 數(shù)據(jù)Q 控制
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選項(xiàng)/模式
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標(biāo)準(zhǔn)成像: 真正的非接觸模式, 接觸模式, 側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint?模式:Pinpoint成像;
化學(xué)性能: 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM), 電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
介電/壓電性能: 靜電力顯微鏡, 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM;
力測(cè)量: 力-距離(F-D)光譜, 力譜成像;
磁性能: 磁力顯微鏡(MFM), 可調(diào)外加磁場(chǎng)MFM;
熱性能: 掃描熱顯微鏡(SThM);
電性能: 導(dǎo)電AFM(CP-AFM), Pinpoint? 導(dǎo)電AFM, I-V譜線, 掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep?掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM),
掃描隧道光譜(STS), 光電流測(cè)繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM);
機(jī)械性能: Pinpoint?納米力學(xué)模式, 力調(diào)制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱;
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