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產(chǎn)品概覽 技術(shù)規(guī)格 資料下載 行業(yè)應(yīng)用

研究納米技術(shù)的理想選擇

Park NX10為您帶來*高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時提供高精度的數(shù)據(jù)。



創(chuàng)新研究的特征


Park SmartScan 智能模式

在SmartScan Auto獨有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時智能選擇*佳的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過Park的磚利技術(shù)才得以實現(xiàn)的。它不僅可以為您節(jié)省時間和**，還可以給你您帶來*好的研究結(jié)果。 		      


Park 消除串?dāng)_技術(shù) 

Park NX10為您帶來*高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。它是全球唯壹一個真正非接觸式原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時，還能良好地保護您的樣品不受損壞?？蓮澢莫毩Y掃描儀和Z掃描儀可帶來****的**度和分辨率。


Park先進的原子力顯微鏡模式

Park原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式，因此您可以準確有效地收集各種數(shù)據(jù)類型。從使用世界上唯壹的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性，到先進的磁力顯微鏡， Park在原子力顯微鏡領(lǐng)域為您提供*具創(chuàng)新、**的模式。


Park NX10 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊


Park NX10掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊為廣泛的應(yīng)用，細胞生物學(xué)，分析化學(xué)，電生理學(xué)和神經(jīng)科學(xué)提供納米級成像。


Accurate AFM Solutions for General Research

Tall Sample 1.5 μm step height


掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer


臺階高度0.3 nm，掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Hard Sample Tungsten film


掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Soft Sample Collagen fibril


掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector

Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測器


· NX平臺的核心先進技術(shù)
· 業(yè)界無可比擬的超低噪聲
· 默認的形貌信號

Z軸探測器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)之一。

它是Park開創(chuàng)的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲*低的Z軸探測器。

超低噪聲讓Z軸探測器可作為默認的形貌信號，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。

如果Z軸探測器的噪聲過高，用戶是無法觀察到藍寶石晶片的原子臺階的。

Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測器所發(fā)出的高度信號，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。

Park NX Series




Park NX Z軸探測器的噪聲水平

NX10所探測的藍寶石晶片形貌

Park XE Series



Park XE Z軸探測器的噪聲水平


XE-100所探測的藍寶石晶片形貌a


Accurate AFM Scan by True Non-Contact? Mode

True Non-Contact? Mode

Tapping Imaging


· 針尖磨損更低=高分率掃描更長久
· 無損式探針-樣品接觸=樣品受損*小化
· 可滿足各種條件下對各種樣品進行非接觸式掃描



· 針尖磨損更快=模糊，低分辨率掃描
· 破壞性的探針-樣品接觸=樣品易受損
· 參數(shù)高依賴性




The Best User Convenience by Design

簡單的探針和樣品更換


獨有的設(shè)計能讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，無需再進行繁雜的激光校準工作。

閃電般快速的自動近針



自動的探針樣品進針功能能讓用戶無需進行干預(yù)操作。

通過監(jiān)測懸臂接近表面的反應(yīng)，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)開始并自動快速完成探針樣品進針操作。

高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。

快速精準的SLD光校準

憑借我們先進的預(yù)校準懸臂架，懸臂在裝載時SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)唯壹一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點。由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動光點。這樣您可以在激光準直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時您只需要稍微調(diào)整到*大化信號，便可開始獲取數(shù)據(jù)。