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產(chǎn)品概覽 技術(shù)規(guī)格 資料下載 行業(yè)應(yīng)用

臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)


我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開發(fā)出TM4000系列。

在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。

為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。




觀察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數(shù)據(jù),并制作報(bào)告。


觀察與分析的靈活性
自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換!

可快速獲得元素分布圖*2


*1TM4000PlusⅡ的功能。

*2選配

使用Camera Navi*的話,就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察


*選配:Camera Navi系統(tǒng)


操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測試報(bào)告。
Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告
只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告


即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進(jìn)行觀察。
“靜電減輕模式”可抑制靜電現(xiàn)象
對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式”,在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式”。

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察
對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。


可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像(表面形狀)觀察。
無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。

高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理


可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。
通過加速電壓20 kV,實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化


Multi Zigzag(選配)
可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。
搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái),可實(shí)現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。

EM 樣品臺(tái)(選配
可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。

* UVD為 TM4000Plus II上的配件。

樣品:研磨劑
加速電壓:20 kV
觀察信號(hào):(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率:10000 倍