臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)
我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開發(fā)出TM4000系列。
在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
觀察與分析的靈活性 自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換!
可快速獲得元素分布圖*2
*1TM4000PlusⅡ的功能。
*2選配
使用Camera Navi*的話,就是如此簡單 Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
操作簡單且快捷 觀察圖像只需 3 分鐘。 可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測試報(bào)告。 Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告 只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告
可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察 對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。
高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理
樣品:研磨劑 加速電壓:20 kV 觀察信號(hào):(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像 放大倍率:10000 倍