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產(chǎn)品概覽 技術(shù)規(guī)格 資料下載 行業(yè)應(yīng)用

測定時間*多縮短25%*2通過超聲波高精度、高速檢查半導(dǎo)體、電子零部件

提供利用超聲波的反射、穿透特性非破壞檢測半導(dǎo)體、電子零部件內(nèi)部的細(xì)微結(jié)構(gòu)、缺陷并將其轉(zhuǎn)換為圖像的裝置——“FineSAT 系列”。
為了應(yīng)對近年來的需求高度化,強化以往機型“FineSAT Ⅲ”的功能,開發(fā)了能進行更高精度、更高速的測定、檢查的“FineSAT Ⅴ”。
“FineSAT Ⅴ”將獨自開發(fā)的數(shù)據(jù)處理軟件、為高速處理大量數(shù)據(jù)而新采用的64bit處理系統(tǒng)和高速、高精度掃描儀組合在一起,縮短了檢查、解析時間。





特點

采用提高了解析能力的64bit處理系統(tǒng)
標(biāo)準(zhǔn)配置可*多保存、處理4億點超聲波測定的數(shù)據(jù),選購配置*1時,可*多保存、處理20億點超聲波測定的數(shù)據(jù)。 這樣,以往使用FineSAT Ⅲ時,對8英寸的晶圓進行1次測定并轉(zhuǎn)換成圖像時的*小測定間距為40 μm,而現(xiàn)在使用FineSAT Ⅴ,標(biāo)準(zhǔn)配置能以20 μm的微小間距取得數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換為圖像,選購配置時,能以10 μm以下的微小間距取得數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換為圖像,所以1次掃描就可完成大樣品的詳細(xì)測定。 另外,還可進行支持高精度解析、評價的多種圖像顯示。

掃描儀的*大掃描速度提高到2,000mm/s,縮短了檢查時間

測定晶圓等大樣品時,掃描儀的掃描速度對測定時間的影響很大。 FineSAT Ⅴ除了采用高速掃描儀,還將超聲波脈沖的發(fā)生周期降低到1/2,這樣,測定時間縮短了25%*2。 

除了加減速時,掃描儀的*大掃描速度提高到2,000mm/s*3,通過新設(shè)計的高剛性框架抑制裝置的振動,所以高速掃描也能獲得鮮明的圖像。


考慮了設(shè)置場所、作業(yè)性的裝備
考慮在潔凈室內(nèi)的使用的情況,掃描儀的門采用上彈方式,同時,作為門的選購件,還準(zhǔn)備了防靜電型透明板,提高了防塵性。
為了設(shè)置樣品、維護設(shè)備時可順暢拆裝臺面、框架,前面的下部窗口可向下180°全開。
本體操作部位采用防靜電板,抑制操作員靜電的影響。
本體電源ON就可進行升降機的升降操作。不用啟動FineSAT軟件就可動作。

標(biāo)準(zhǔn)裝備便攜控制器。 以往,移動掃描儀內(nèi)的探頭時,要用鼠標(biāo)或鍵盤操作顯示器畫面內(nèi)的按鈕,來回移動視線,查看、操作探頭和監(jiān)視器或鍵盤。 

如果使用便攜控制器,不用離開視線,就可對探頭位置進行微調(diào)整。

配備23英寸顯示器,大幅提高數(shù)據(jù)解析等的視認(rèn)性、作業(yè)性。
可選擇雙顯示器。

*1GUIPC為選購件的情況。

*2與本公司以往機型相比,因條件而有所不同。

*3因測定條件不同,*大掃描速度可能受到限制。




功能
采用的64bit處理系統(tǒng),大幅強化解析功能。


■ 高分辨率波形顯示

能將超聲波的測定時間單位設(shè)定為以往的1/4,所以深度方向的分辨率提高到了4倍。 

不斷細(xì)微化、多層化的電子裝置的薄層內(nèi)的缺陷、層間剝離的檢測、深度位置信息的精度提高。


■ 多焦點
通過掃描時連續(xù)改變焦點位置的功能,1次測定就可獲得對焦不同的多個深度的圖像,所以能防止漏看缺陷。

■ 多閘門縮略圖顯
對于通過多閘門測定的多個不同信息的圖像,可生成縮略圖,轉(zhuǎn)換為容易選擇的一覽顯示。
縮略圖圖像可單獨變更調(diào)色板。

■ 覆蓋物顯示(反射圖像/透射圖像重疊)
可重疊顯示通過反射法/透射法同時測定取得的2個圖像。另外,對于顯示的圖像,可調(diào)整透明度,所以可設(shè)定為容易判斷的圖像。

■ 作為選購件,準(zhǔn)備了圖像銳化、體積圖像、孔隙瀏覽器等軟件

可與圖像銳化軟件(對超聲波信號劣化進行補正,使圖像更加鮮明)、體積圖像軟件(在測定后將收集的波形數(shù)據(jù)解析為測定圖像和波形)、孔隙瀏覽器軟件(顯示孔隙(缺陷)后進行合格與否判定、統(tǒng)計處理)等高度的解析軟件組合。


■ 追隨掃描功能
這種掃描方式可適于與不平整的彎曲晶圓、扭曲的被檢體。
掃描時可追隨被檢體的表面。