零件表面的殘留顆粒物污染物會(huì)對(duì)零件的使用壽命造成影響,因此在精密制造領(lǐng)域需要對(duì)零件表面的清潔度進(jìn)行分析檢測(cè),從而確保產(chǎn)品的可靠性。以下是常見(jiàn)顆粒物分析方法的比較。
顆粒物分析方法
(1)篩分法。
優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于40um的樣品。
缺點(diǎn):結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(2)顆粒物圖像分析法。
優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀,可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(*大和*小粒徑的比值小于10:1)的樣品。
缺點(diǎn):代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無(wú)法分析小于1um的樣品。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)
奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)可用于ISO 16232以及VDA-19標(biāo)準(zhǔn)。
(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。
優(yōu)點(diǎn):操作漸變,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較廣。
缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作比較繁瑣。
(4)電阻法。
優(yōu)點(diǎn):操作漸變可測(cè)顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。
缺點(diǎn):不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品,對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
(5)激光法。優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍廣,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高,分辨力低。
(6)電子顯微鏡法。
優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析。
缺點(diǎn):樣品少,代表性差,測(cè)量易受人為因素影響,儀器價(jià)格昂貴。
(7)光阻法。
優(yōu)點(diǎn):測(cè)試便捷快速,可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),分辨力高。
缺點(diǎn):不適用粒徑小于1um的樣品,進(jìn)行系統(tǒng)比較講究,僅適合對(duì)塵埃、污染物或已稀釋好的**進(jìn)行測(cè)量,對(duì)一般粉體用的不多。
(8)透氣法。
優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,可測(cè)測(cè)性材料粉體。
缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測(cè)粒度分布;不能測(cè)小于5um細(xì)粉。